Статья опубликована в рамках: XI Международной научно-практической конференции «Наука вчера, сегодня, завтра» (Россия, г. Новосибирск, 07 апреля 2014 г.)
Наука: Математика
Скачать книгу(-и): Сборник статей конференции
- Условия публикаций
- Все статьи конференции
дипломов
Статья опубликована в рамках:
Выходные данные сборника:
РАЗНОСТЬ СОПРОТИВЛЕНИЙ ТЕРМИЧЕСКИ НАПЫЛЕННЫХ ПЛЕНОК ТЕЛЛУРА ПО НАПРАВЛЕНИЯМ
Джелилов Галим Курбанмагомедович
аспирант Дагестанского государственного педагогического университета, РФ, г. Махачкала
E -mail: galimdgalilov@mail.ru
Развитие современной науки и техники тесно связано с успехами в получении и исследовании тонкопленочных полупроводниковых материалов. Монокристаллические пленки теллура и соединений теллура перспективны для изготовления фотодиодов, инфракрасных фильтров, лазеров и термоэлектрических элементов. Можно сказать, что научно-технический прогресс в области микроминиатюризации интегральных схем в значительной мере обязан внедрению в производство методов эпитаксиальной кристаллизации [2].
Теллур — полупроводниковое вещество, обладающее в зависимости от температуры, различным типом проводимости. При комнатной температуре обладает собственной проводимостью в несколько десятых Ом∙см.
Поверхностное состояние теллура имеет акцепторный тип, т. е. захватывает электроны из валентной зоны. Поскольку поверхность теллура заряжена отрицательно, то приповерхностные слои оказываются обогащенными дырками. Однако подвижность дырок в приповерхностных слоях за счет диффузионного рассеяния поверхностью гораздо меньше, чем в объеме образцов. Следовательно, приповерхностные слои будут обладать свойствами, отличными от соответствующих свойств, для объема. Приповерхностные слои вносят свой вклад в наблюдаемые свойства образцов тем больший, чем меньше толщина образцов.
Исследование ширины запрещенной зоны теллура в зависимости от приложенного гидростатического давления [3] показало, что величина изменяется от 10-5 до 1,3 ЭВ/атм.
Интересным атомным свойством теллура является двойная перемена знака постоянной Холла в твердой фазе с последующей третьей переменной в жидком состоянии.
Удельное сопротивление поликристаллического Те при 00 С, колеблется в зависимости от частоты, в широком интервале от –79 до 400 0С приводит к снижению электросопротивления.
Электропроводность Те почти не чувствительна к освещению, что резко отличает Те от Se.
Пленки теллура (рис. 1, кривая 1) , конденсированные на холодные подложки обладают разностью сопротивлений, доходящей до 40 кОм. Сопротивление значительно изменяется в зависимости от характера термической обработки пленки. Пленка теллура, получена при температуре близкой комнатной, состоит из кристалликов [3], окруженных как бы аморфным теллуром. Пленки имеют повышенное электросопротивление, но с течением времени по мере роста кристалликов их электросопротивление уменьшается.
Рисунок 1. Зависимость разности сопротивления от температуры конденсации
Повышение температуры пленки приводит к ускорению процесса кристаллизации и уменьшению электросопротивления. В нашем случае на рис. 1. (кривая 1) представлена зависимость разности сопротивлений пленок теллура полученных в электрических полях по направлениям в зависимости от температуры осаждения. Мы наблюдаем резкое уменьшение разности сопротивлений с 39 кОм до 5,4 кОм при увеличении температуры осаждения с 328 К до 337 К. При дальнейшем увеличении температуры осаждений разность сопротивлений пленок Те (кривая 1) принимает стабильный характер, но при максимальной температуре осаждения разность сопротивления пленок увеличивается более чем в 3 раза. А разность сопротивлений пленок Те, полученных вне электрического поля (рис. 1, кривая 2) увеличивается с температурой осаждения и достигает максимума при температуре 438 К, а далее вновь идет спад значения разности сопротивления.
Измерение сопротивлений пленок Те методом Ван-дер-Пау выявило, что сопротивление пленок, выращенных в электрических полях, в направлении силовых линий напряженности электрического поля всегда меньше значений сопротивлений этих же пленок в направлении перпендикулярном направлению силовых линий напряженности электрического поля. Эта разница в значениях сопротивлений наблюдается для всех пленок Те, выращенных в электрических полях при всех температурах осаждения.
Поведение электрических свойств пленок теллура в средах NO2, H2 и H2O, а также чувствительность для газа NO2 была изучена при температуре от 20 до 70 0С. С повышением парциального давления кислорода в N2+O2 газа-носителя результаты дали линейное уменьшение сопротивления пленок. Полное замещение азота под импульсивным воздействием кислорода приводит к уменьшению сопротивления пленки приблизительно на 6 % в 1,5 часа. Воздействие влажности является все более ощутимым. При комнатной температуре сопротивление пленок увеличивается с 15 % до 58 %, но влияние влажности при высоких температурах, выше 500 С незначительна. Результаты показывают, что эффект водяного пара, есть результат простой физической адсорбции, а действием кислорода и азота является хемосорбция этих молекул на поверхности пленки [5].
На свойства пленок оказывают влияние многочисленные факторы. В частности, наличие примесей различных газов в пленках может оказать значительное воздействие на их структуру, электрические [1, с. 5] и люминесцентные свойства. Так как поверхности, свободные от адсорбированных газов, можно получить только в очень глубоком вакууме, то в наиболее часто встречающихся условиях осаждения нельзя избежать захвата некоторого количества атомов газа растущим кристаллом.
Также были исследованы [6] влияние температуры и отжига на электрические свойства в среде NO2 на основе пленок теллура. Отжиг при температуре выше 100 0С приводит к резкому снижению сопротивления и чувствительности слоев.
Электрическое поле может повлиять на анизотропические свойства пленок теллура, что — мы наблюдаем в интервале температур 337—438 К (рис. 1, кривая 1) где разность сопротивлений имеет стабильных характер.
Таким образом, электрическое поле действует благоприятно на термоэлектрические свойства пленок Те. Так термоэлектрическая эффективность пленок выращенных в области температур 337—438 К имеет стабильный характер и по абсолютной величине ее значение больше, чем у аналогичных образцов полученных вне поля.
Список литературы:
1.Качабеков М.М. Влияние примесей водорода, аргона, кислорода, азота на рост, структуру и люминесцентные свойства пленок PbTe, SnTe и Pb1-xSnxTe: диссертация. М.: 1988. — 201 с.
2.Случинская И.А. Основы материаловедения и технологии полупроводников: учебное пособие, М.: ©, 2002. — 351 с.
3.Чижиков Д.М., Счастливый В.П. Пленки теллура и их свойства «Теллур и теллуриды» Изд. «Наука» 1966, — С. 20.
4.Eid A.N., Mahmond S., Elmanharawy W.S. Semiconducting propemer of orienter thin tellurium films //Acta phys. Accad. Sci hund. — 1979. — T. 46 (4). — P. 253.
5.Tsiulyanu D.I. Stratan, Tsiulyanu A., Liess H.-D., EiseleJournal I: Sensors and Actuators B-chemical - SENSOR ACTUATOR B-CHEM , — vol. 121, — № 2, — 2007. — pp. 406—413.
6.Tsiulyanu D., Stratan I. , Tsiulyanu A., Eisele I., ensing Properties of Tellurium Based Thin Films to Oxygen, Nitrogen and Water Vapour (Citations: 1) , Conference: Semiconductor, International Conference CAS , 2006.
дипломов
Комментарии (3)
Оставить комментарий